試料作製から結晶粒径、方位、構造の構成要素の検討を通じて、金属や合金のワークフローを簡素化し不具合や欠陥を早期に見つけることで、解決策を開発して生産効率を改善することができます。
Read more...
試料の作製、視覚化、および分析を明確かつ正確に行うことで、サブナノメートル分解能のEELSおよびEDSマップを生成し、材料や欠陥の組成、微細構造、および原子構造を解明できます。
Read more...
材料研究の最前線では、高感度の化学分析ツールを使用することで、さまざまな元素の化学状態に関する正確なデータが集められ、従来の電子光学系では観察されなかった無機材料の特性が明らかになっています。
Read more...
Senga, R.; Suenaga, K.; Barone, P.; Morishita, S.; Mauri, F.; Pichler, T.
Zhang, D.; Zhu, Y.; Liu, L.; Ying, X.; Hsiung, C. -E.; Sougrat, R.; Li, K.; Han, Y.
Zheng, F.; Kiselev, N. S.; Rybakov, F. N.; Yang, L.; Shi, W.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Jinnai, H.
Clabbers, M. T. B.; Martynawycz, M. W.; Hattne, J.; Nannenga, B. L.; Gonen, T.
Yang, T.; Xua, H.; Zoua, X.
Lai, Y. H.; Zheng, J. D.; Lu, S. C.; Wang, Y. K.; Duan, C. G.; Yu, P.; Zheng, Y. Z.; Huang, R.; Chang, L.; Chu, M. W.; Hsu, J. H.; Chu, Y. H.
Persson, A. R.; Papamichail, A.; Darakchieva, V.
Du, J. S.; Dravid, V. P.; Mirkin, C. A.
Sun, J.; Ding, D.; Liu, W.; Wu, W.; Liu, H.; Wei, G.; Liu, H.
Pacakova, B.; Vullum, P. E.; Kirch, A.; Breu, J.; Miranda, C. R.; Fossum, J. O.
Hölzel, H.; Lee, S.; Amsharov, K.; Jux, N.; Harano, K.; Nakamura, E.; Lungerich, D.
Kuwahara, M.; Mizuno, L.; Yokoi, R.; Morishita, H.; Ishida, T.; Saitoh, K.; Tanaka, N.; Kuwahara, S.; Agemura, T.
Shang, T.; Xiao, D.; Meng, F.; Rong, X.; Gao, A.; Lin, T.; Tang, Z.; Liu, X.; Li, X.; Zhang, Q.; Wen, Y.; Xiao, R.; Wang, X.; Su, D.; Hu, Y. S.; Li, H.; Yu, Q.; Zhang, Z.; Petricek, V.; Wu, L.; Gu, L.; Zuo, J. M.; Zhu, Y.; Nan. C. W.; Zhu. J.
Xi, R.; Jiang, H.; Li, G.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Vanmeensel, K.; Kustov, S.; Humbeeck. J. V.; Wang. X.
Wu, S.; Kou, Z.; Lai, Q.; Lan, S.; Katnagallu, S. S.; Hahn, H.; Taheriniya, S.; Wilde, G.; Gleiter, H.; Feng, T.
Vanacore, G. M.;Chrastina, D.; Scalise, E.; Barbisan, L.; Ballabio, A.; Mauceri, M.; Via, F. L.; Capitani, G.; Crippa, D.; Marzegalli, A.; Bergamaschini. R.; Miglio. L.
Ding, Z.; Gao, S.; Fang, W.; Huang, C.; Zhou, L.; Pei, X.; Liu, X.; Pan, X.; Fan, C.; Kirkland, A. I.; Wang, P.
Pakzad, A.; dos Reis. R. D.
Crozier, P. A.
Zanetta, P. -M.
Elgvin, C.; Kjeldby, S. B.; Both, K. G.; Nguyen, P. D.; Prytz, Ø.
Minor, A.; Mills, S.; Zeltmann, S.; Ercius, P.; Kohnert, A.; Uberuaga, B.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Harano, K.; Nakamura, E.
Hasegawa, S.; Masuda, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Abe, Y.; Satoh, Y.; Hashimoto, N.
Leong, Z.; Huang, Y.; Wróbel, J. S.; Gao, J.; Morley, N.; Goodall, R.
Liu, F.; Hu, W. -X.; Yang, Z. -H.; Wang, W.; He, W.
Sui, Y. -D.; Jiang, Y. -H.; Wang, Q. -D.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cai, Y.; Xiang, S.; Tan, Y.
McClintock, D. A.; Gussev, M. N.; Campbell, C.; Mao, K.; Lach, T. G.; Lu, W.; Hachtel, J. A.; Unocic, K. A.
Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.
Murthy, A. A.; Das, P. M.; Ribet, S. M.; Kopas, C.; Lee, J.; Reagor, M. J.; Zhou, L.; Kramer, M. J.; Hersam, M. C.; Checchin, M.; Grassellino, A.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.; Romanenko, A.
Senga, R.; Lin, Y. -C.; Morishita, S.; Kato, R.; Yamada, T.; Hasegawa, M.; Suenaga, K.
Liu, D.; Kowashi, S.; Nakamuro, T.; Lungerich, D.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Mozgawa, B.; Sobańska, K.; Grybo, J.; Pietrzy, P.
Donohue, J.; Zeltmann, S. E.; Bustillo, K. C.; Savitzky, B.; Jones, M. A.; Meyers, G.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Munshi, J.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Zeltmann, S. E.; Ciston, J.; Henderson, M.; Cholia, S.; Minor, A. M.; Chan, M. K. Y.; Ophus, C.
Wei, Y.; Zhao, X.; Liu, Z.; Tan, C.
Chen, C.; Sun, M.; Cheng, Z.; Liang, Y.
Angell, D. K.; Bourgeois, B.; Vadai, M.; Dionne, J. A.
Behera, P.; May, M. A.; Gomez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R.; Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; Garcia-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; Van der Laan, G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. B.; Ramesh, R.
Shang, Y.; Liu, Z.; Dong, J.; Yao, M.; Yang, Z.; Li, Q.; Zhai, C.; Shen, F.; Hou, X.; Wang, L.; Zhang, N.; Zhang, W.; Fu, R.; Ji, J.; Zhang, X.; Lin, H.; Fei, Y.; Sundqvist, B.; Wang, W.; Liu, B.
Tang, H.; Yuan, X.; Cheng, Y.; Fei, H.; Liu, F.; Liang, T.; Zeng, Z.; Ishii, T.; Wang, M. -S.; Katsura, T.; Sheng, H.; Gou, H.
Synthesis and characterisation of cerium sulphide over optical fiber and its gas sensing application
Theoderaj, A. K. C.; Jacob, I. D.; Chitra, J. M.
Kobayashia, S.; Howe, J. M.; MitsuhiroMurayama, M.
Singha, R.; Yuan, F.; Cheng, G.; Salters, T. H.; Oey, Y. M.; Villalpando, G. V.; Jovanovic, M.; Yao, N.; Schoop, L. M.
Ophus, C.; Zeltmann, S. E.; Bruefach, A.; Rakowski, A.; Savitzky, B. H.; Minor, A. M.; Scott, M. C.
Susarla, S.; García-Fernández, P.; Ophus, C.; Das, S.; Aguado-Puente, P.; McCarter, M.; Ercius, P.; Martin, L. W.; Ramesh, R. Junquera, J.
Ravat, P.; Uchida, H.; Sekine, R.; Kamei, K.; Yamamoto, A.; Konovalov, O.; Tanaka, M.; Yamada, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Murthy, A. A.; Ribet, S. M.; Stanev, T. K.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Zhao, J.; Xu, H.; Lebrette, H.; Carroni, M.; Taberman, H.; Hogbom, M.; Zou, X.
Mao, W.; Bao, C.; Han, L.
Xing, J.; Takeuchi, K.; Kamei, K.; Nakamuro, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Cao, B. X.; Kong, H. J.; Ding, Z. Y.; Wu, S. W.; Luan, J. H.; Jiao, Z. B.; Lu, J.; Liu, C. T.; Yang, T.
Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Tsuda, K.; Jinnai, H.
Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.
Bu, Y.; Wu, Y.; Lei, Z.; Yuan, X.; Wu, H.; Feng, X.; Liu, J.; Ding, J.; Lu, Y.; Wang, H.; Lu, Z.; Yang, W.
Biffi, C. A.; Bassani, P.; Fiocchi, J.; Albu, M.; Tuissi, A.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Lungerich, D.; Hoelzel, H.; Harano, K.; Jux, N.; Amsharov, K. Y.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Schneider, M. M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Ma, S.; Zhud, H.; Pettes, M. T.
Wang, H.; Yu, Z.; Kong, X.; Huang, W.; Zhang, Z.; Mackanic, D. G.; Huang, X.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui. Y.
Mir, A. H.; Hyatt, N. C.; Donnelly, S. E.
Liu, B.; Zhao, G.; Zhang, X.; Guo, J.; Gong, S.; Xie, G.; Peng, L.; Li, Z.
Wang, W.; Blawert, C.; Zan, R.; Sun, Y.; Peng, H.; Ni, J.; Han, P.; Suo, T.; Song, Y.; Zhang, S.; Zheludkevich, M. L.; Zhang, X.
Ng, S.; Zazpe, R.; Rodriguez-Pereira, H.; Michalička, J.; Macak, J. M.; Pumera, M.
Censabella, M.; Irrera, D.; Boscarino, S.; Piccitto, G.; Grimaldi, M. G.; Ruffino, F.
Li, R.; Yamashita, S.; Kita, H.
Kazmierczak, N. P.; Van Winkle, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Carr, S.; Brown, H. G.; Ciston, J.; Taniguchi, T.; Watanabe, K,; Bediako, D. K.
Rymer, L. -M.; Winter, L.; Hockauf, K.; Lampke, T.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Hasegawa, S.; Takano, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Karre, R.; Hua, Y.; Song, S.; Wang, X.; Joardar, J.; Reddy, K. M.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.
Tomita, A.; Miki, T.; Tai, Y.
Koenig, T. R.; Rao, Z.; Chason, E.; Tucker, G. J.; Thompson, G. B.
Lezhnev, S. N.; Naizabekov, A. B.; Panin, E. A.; Volokitina, I. E.; Arbuz, A. S.
Pofelski, A.; Whabi, V.; Ghanad-Tavakoli, S.; Botton, G.
Krause, F. F.; Schowalter, M.; Oppermann, O.; Marquardt, D.; Müller-Caspary, K.; Ritz, R.; Simson, M.; Ryll, H.; Huth, M.; Soltau, H.; Rosenauer, A.
Xie, H.; Zhao, X.; Jiang, J.; Bai, J.; Li, S.; Pan, H.; Pang, X.; Li, H.; Ren, Y.; Qin, G.
Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.
Boyle, D. T.; Huang, W.; Wang, H.; Li, Y.; Chen, H.; Yu, Z.; Zhang, W.; Bao, Z.; Cui, Y.
Emmrich, D.; Wolff, A.; Meyerbröker, N.; Lindner, J. K. N.; Beyer, A.; Gölzhäuser, A.
Osugi, S.; Takano, S.; Masuda, S.; Harano, K.; Tsukuda, T.
Sudha, M.; Surendhiran, S.; Gowthambabu, V.; Balamurugan, A.; Anandarasu, R.; Syed Khadar, Y. A.; Vasudevan, D.
Zrinski, I.; Mardare, C. C.; Jinga, L. - I.; Kollender, J. P.; Socol, G.; Minenkov, A.; Hassel, A. W.; Mardare, A. I.;
Farabi, E.; Sharp, J. A.; Vahid, A.; Fabijanic, D. M.; Barnett, M. R.; Gallo, S. C.
Chen, W.; Ding, D.; Zhang, W.; Xiao, D.
Wang, W.; Erofeev, I.; Nandi, P.; Yan, H.; Mirsaidov, U.
Londoño-Calderon, A.; J. Williams, D. J.; Schneider, M.; Savitzky, B. H.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Castano, I.; Evans, A. M.; dos Reis, R,; Dravid, V. P.; Gianneschi, N. C.; Dichtel, W. R.
Sekine, R.; Ravat, P.; Yanagisawa, H.; Liu, C.; Kikkawa, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Reboul, C. F.; Heo, J.; Machello, C.; Kiesewetter, S.; Kim, B. H.; Kim, S.; Elmlund, D.; Ercius, P.; Park, J.; Elmlund, H.
Pan, Z.; Zhou, Q.; Wang, P.; Diao, D.
Marchello, G.; De Pace, C.; Acosta-Gutierrez, S.; Lopez-Vazquez, C.; Wilkinson, N.; Gervasio, F. L.; Ruiz-Perez, L.; Giuseppe Battaglia, G.
Quarez, E.; Gautron, E.; Paris, M.; Gajan, D.; Mevellec, J. -Y.
Nakamuro, T.; Sakakibara, M.; Nada, H.; Harano, K.;Nakamura, E.
Mathur, N.; Yasin, F. S.; Stolt, M. J.; Nagai, T.; Kimoto, K.; Du, H.; Tian, M.; Tokura, Y.; Yu, X.; Jin, S.
Sulym, I.; Wiśniewska, M.; Storozhuk, L.; Terpilowski, K.; Sternik, D.; Borysenko, M.; Derylo-Marczewska, A.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Abfaltere, A.; Shamsi, J.; Kubicki, D. J.; Savory, C. N.; Xiao, J.; Divitini, G.; Li, W.; Macpherson, S.; Gałkowski, K.; MacManus-Driscoll, J. L.; Scanlon, D. O.; Stranks, S. D.
Kratish, Y.; Nakamuro, T.; Liu, Y.; Li, J.; Tomotsuka, I.; Harano, K.; Nakamura, E.; Marks, T. J.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Roslova, M.; Smeets, S.; Wang, B.; Thersleff, T.; Xu, H.; Zou, X.
Kamei, K.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.
Shen, T. -H.; Spillane, L.; Vavra, J.; Pham, T. H. M.; Peng, J.; Shao-Horn, Y.; Tileli, V.
Kim, Y. -J.; Lee, Y.; Kim, K.; Kwon, O. -H.
Park, S.; Siahrostami, S.; Park, J.; Mostaghimi, A. H. B.; Kim, T. R.; Vallez, L.; Gill, T. M.; Park, W.; Goodson, K. E.; Sinclair, R.; Zheng, X.
Stuckner, J.; Shimizu, T.; Harano, K.; Nakamura, E.; Murayama, M.
Shimizu, T.; Lungerich, D.; Stuckner, J.; Murayama, M.; Harano, K.; Nakamura, E.
Gholinia, A.; Curd, M. E.; Bousser, E.; Taylor, K.; Hosman, T.; Coyle, S.; Hassel Shearer, M.; Hunt, J.; Withers, P. J.
Hanayama, H.; Yamada, J.; Harano, K.; Nakamura, E.
Londoño-Calderon, A.; Williams, D. J.; Ophus, C.; Pettes, M. T.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; dos Reis, R.; Hao, S.; Wolverton, C.; Stern, N. P.; Dravid, V. P.
Yu, L.; Hudak, B. M.; Ullah, A.; Thomas, M. P.; Porter, C. C.; Thisera, A.; Pham, R. H.; Goonatilleke, M. D. A.; Guiton, B. S.
Ogata, A. F.; Rakowski, A. M.; Carpenter, B. P.; Fishman, D. A.; Merham, J. G.; Hurst, P. J.; Patterson, J. P.
Addiego, C.; Gao, W.; Pan, X.
Errokh, A.; Magnin, A.; Putaux, J. -L.; Boufi, S.
Vasiliades, M. A.; Kalamaras, C. M.; Govender, N. S.; Govender, A.; Efstathiou, A. M.
Nam, K. W.; Park, S. S.; dos Reis, R.; Dravid, V. P. Kim, H.; Mirkin, C. A.; Stoddart, J. F.
Gao, W.; Addiego, C.; Wang, H,; Yan, X.; Hou, Y.; Ji, D.; Heikes, C.; Zhang, Y.; Li, L.; Huyan, H.; Blum, T.; Aoki, T.; Nie, Y.; Schlom, D.; Wu, R.; Pan, X.
Leijten, Z. J. W. A.; Wirix, J. M.; Strauss, M.; Plitzko, J. M.; de With, G.; Friedrich, H.
Samji Samira, S.; Gu, X. -K.; Nikolla, E.
Mayoral, Á.; del Angel, P.; Ramos, M.
Mecklenburg, M.; Hubbard, W. A.; Lodico, J. J.; Regan, B. C.
Zhao, C.; Lu, H.; Wang, H.; Tang, F.; Nie, H.; Hou, C.; Liu, X.; Song, X.; Nie, Z.
Ogawa, Y.
Xing, J.; Schweighauser, L.; Okada, S.; Harano, K.; Nakamura, E.
Vollmer, C.; Leitner, J.; Kepaptsoglou, D.; Ramasse, Q. M.; Busemann, H.; Hoppe, P.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Kumar, A.; Nayak, S. K.; Bijalwan, P.; Dutta, M.; Banerjee, A.; Laha, T.
Li, X.; Wang, J.; Liu, X.; Liu, L.; Cha, D.; Zheng, X.; Yousef, A. A.; Song, K.; Zhu, Y.; Zhang, D.; Han, Y.
Yang, J.; Zeng, Z.; Kang, J.; Betzler, S.; Czarnik, C.; Zhang, X.; Ophus, C.; Yu, C.; Bustillo, K.; Pan, M.; Qiu, J.; Wang, L. -W.; Zheng, H.
Wang, H.; Liu, Z.; Liu, H.; Guan, L.; Cao, X.; Zhang, Z.; Huang, Y.; Jin, C.
Li, Y.; Wang, K.; Zhou, W.; Sinclair, R.; Chiu, W.; Cui, Y.
Yakovlev, S.; Fiscus, D.; Brant, P.; Butler, J.; Bucknall, D. G.; Downing, K. H.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Tunes, M. A.; Harrison, R. W.; Donnelly, S. E.; Edmondson, P. D.
Hooley, R.; Brown, A.; Brydson, R.
S’ari, M.; Cattle, J.; Hondow, N.; Brydson, R.; Brown, A.
Matai, I.; Garg, M.; Rana, K.; Singh, S.
Zhang, Y.; Tunes, M. A.; Crespillo, M. L.; Zhang, F.; Boldman, W. L.; Rack, P. D.; Jiang, L.; Xu, C.; Greaves, G.; Donnelly, S. E.; Wang, L.; Weber, W. J.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Yang, W. -C. D.; Wang, C.; Fredin, L. A.; Lin, P. A.; Shimomoto, L.; Lezec, H. J.; Sharma, R.
Evans, S. F.; Ivancevic, M. R.; Wilson, D. J.; Hood, Z. D.; Adhikari, S. P.; Naskar, A. K.; Tsouris, C.; Paranthaman, M. P.
Almeida, T. P.; Muxworthy, A. R.; Williams, W.; Kasama, T.; Kovács, A.; Dunin-Borkowski, R. E.
Connolly, M.; Zhang, Y.; Mahri, S.; Brown, D. M.; Ortuño, N.; Jordá-Beneyto, M.; Maciaszek, K.; Stone, V.; Fernandes, T. F.; Johnston, H. J.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Gallagher-Jones, M.; Ophus, C.; Bustillo, K. C.; Boyer, D. R.; Panova, O.; Glynn, C.; Zee, C., -T.; Ciston, J.; Mancia, K. C.; Minor, A. M.; Rodriguez, J. A.
Pierobon, L.; Kovács, A.; Schäublin, R. E.; Wyss, U.; Dunin-Borkowski, R. E.; Löffler, J. F.; Charilaou, M.
Khelfa, A.; Byun, C.; Nelayah, J.; Wang, G.; Ricolleau, C.; Alloyeau, D.
Panciera, F.; Tersoff, J.; Gamalski, A. D.; Reuter, M. C.; Zakharov, D.; Stach, E. A.; Hofmann, S.; Ross, F. M
Pool, R.
Gao, W.; Wu, J.; Yoon, A.; Lu, P.; Qi, L.; Wen, J.; Miller, D. J.; Mabon, J. C.; Wilson, W. L.; Yang, H.; Zuo, J. -M.
Harmand, J. -C.; Patriarche, G.; Glas, F.; Panciera, F.; Florea, I.; Maurice, J. -L.; Travers, L.; Ollivier, Y.
Fu, Z.; Jiang, L.; Wardini, J. L.; MacDonald, B. E.; Wen, H.; Xiong, W.; Zhang, D.; Zhou, Y.; Rupert, T. J.; Chen, W.; Lavernia, E. J.
Tan, S. F.; Bisht, G.; Anand, U.; Bosman, M.; Yong, X. E.; Mirsaidov, U.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Kim, S.; Jung, H. J.; Kim, J. C.; Lee, K. -S.; Park, S. S.; Dravid, V. P.; He, K.; Jeong, H. Y.
Yu, J.; Yuan, W.; Yang, H.; Xu, Q.; Wang, Y.; Zhang, Z.
Fernandez, S.; Ostraat, M. L.; Lawrence III, J. A.; Zhang, K.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
Zhang, X.; Ren, Z.; Lu, Y.; Yao, J.; Gao, M.; Liu, Y.; Pan, H.
Zheng, F.; Rybakov, F. N.; Borisov, A. B.; Song, D.; Wang, S.; Li, Z. -A.; Du, H.; Kiselev, N. S.; Caron, J.; Kovács, A.; Tian, M.; Zhang, Y.; Blügel, S.; Dunin-Borkowski, R. E.
Tsukasaki, H.; Mori, S.;Shiotani, S.; Yamamura, H.
Tan, S. F.; Raj, S.; Bisht, G.; Annadata, H. V.; Nijhuis, C. A.; Král, P.; Mirsaidov, U.
Destefani, T. A.; Onaga, G. L.; de Farias, M. A.; Percebom, A. M.; Sabadini, E.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
da Silva, L. C. E.; Germiniani, L. G. L.; Plivelic, T. S.; Gonçalves, M. C.
S.E.Gilliland III, Tengco, J. M. M.; Yang, Y.; Regalbuto, J. R.; Castano, C. E.; Gupton, B. F.
Hou, Z.; Zhang, Q.; Xu, G.; Gong, C.; Ding, B.; Wang, Y.; Li, H.; Liu, E.; Xu, F.; Zhang, H.; Yao, Y.; Wu, G.; Zhang, X. - X.; Wang, W.
Pekin, T. C.; Gammer, C.; Ciston, J.; Ophus, C.; Minor, A. M.
Boyer, M.; Yang, X.; Carrión, A. J. F.; Wang, Q.; Véron, E.; Genevois, C.; Hennet, L.; Matzen, G.; Suard, E.; Thiaudière, D.; Castro, C.; Pelloquin, D.; Kong, L. B.; Kuang, X.; Allix, M.
Okada, S.; Kowashi, S.; Schweighauser, L.; Yamanouchi, K.; Harano, K.; Nakamura, E.
Nayak, A. K.; Kumar, V.; Ma, T.; Werner, P.; Pippel, E.; Sahoo, R.; Damay, F.; Rößler, U. K.; Felser, C.; Parkin, S. S. P.
Han, C. W.; Choksi, T.; Milligan, C.; Majumdar, P.; Manto, M.; Cui, Y.; Sang, X.; Unocic, R. R.; Zemlyanov, D.; Wang, C.; Ribeiro, F. H.; Greeley, J.; Ortalan, V.
Yue, Y.; Zhang, Q.; Zhang, X.; Yang, Z.; Yin, P.; Guo, L.
Geng, G.; Chen, P.; Guan, B.; Jiang, L.; Xu, Z.; Di, D.; Tu, Z.; Hao, W.; Yi, Y.; Chen, C.; Liu, M.; Hu, W.
Rao, J. C.; Diao, H. Y.; Ocelík, V.; Vainchtein, D.; Zhang, C.; Kuo, C.; Tang, Z.; Guo, W.; Poplawsky, J. D.; Zhou, Y.; Liaw, P. K.; De Hosson, J. Th. M.
Ophus, C.; Ercius, P.; Huijben, M.; Ciston, J.
Ahadi, A.; Matsushita, Y.; Sawaguchi, T.; Sun, Q. P.; Tsuchiya, K.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Zieschang, A. -M.; Bocarsly, J. D.; Dürrschnabel, M.; Molina-Luna, L.; Kleebe, H. -J.; Seshadri, R.; Albert, B.
Boebinger, M. G.; Xu, M.; Ma, X.; Chen, H.; Unocic, R. R.; McDowell, M. T.
Gerber, O.; Pichon, B. P.; Ihiawakrim, D.; Florea, I.; Moldovan, S.; Ersen, O.; Begin, D.; Grenèche, J. -M.; Lemonnier, S.; Barraud, E.; Begin-Colin, S.
Koh, A. L.; Gidcumb, E.; Zhou, O.; Sinclair, R.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Gammer, C.; Kacher, J.; Czarnik, C.; Warren, O. L.; Ciston, J.; Minor, A. M.
Zhang, B.; Peng, K.; Li, A.; Zhou, X.; Chen, Y.; Deng, Q.; Han, X.
Chen, Z.; Weyland, M.; Ercius, P.; Ciston, J.; Zheng, C.; Fuhrer, M. S.; D'Alfonso. A. J.; Allen, L. J.; Findlay, S. D.
Shibata, K.; Kovács, A.; Kanazawa, N.; Dunin-Borkowski, R. E.; Tokura, Y.
Eggeler, Y. M.; Müller, J.; Titus, M. S.; Suzuki, A.; Pollock, T. M.; Spiecker, E.
Clark, B. G.; Hattar, K. M.; Marshall, M. T.; Chookajorn, T.; Boyce, B. L.; Schuh, C. A.
Chen, Y. -J.; Zhang, B.; Ding, Q. -Q.; Deng, Q. -S.; Chen, Y.; Song, Z. -T.; Li, J. -X.; Zhang, Z.; Han, X. -D.
van den Berg, R.; Elkjaer, C. F.; Gommes, C. J.; Chorkendorff, I.; Sehested, J.; de Jongh, P. E.; de Jong, K. P.; Helveg, S.
Agar, J. C.; Damodaran, A. R.; Okatan, M. B.; Kacher, J.; Gammer, C.; Vasudevan, R. K.; Pandya, S.; Dedon, L. R.; Mangalam, R. V. K.; Velarde, G. A.; Jesse, S.; Balke, N.; Minor, A. M.; Kalinin, S. V.; Martin, L. W.
Matsumoto, T.; So, Y. -G.; Kohno, Y.; Sawada, H.; Ikuhara, Y.; Shibata, N.
Kong, X.; Li, H.; Albert, S.; Bengoechea-Encabo, A.; Sanchez-Garcia, M. A.; Calleja, E.; Draxl, C.; Trampert, A.
Gammer, C.; Ozdol, V. B.; Liebscher, C. H.; Minor, A. M.
Ozdol, V. B.; Gammer,C.; Jin, X. G.; Ercius, P.; Ophus, C.; Ciston,J.; Minor, A. M.
Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.
Galstyan, E.; Gharacheshmeh, H. M.; Delgado, L.; Xu, A.; Majkic, G.; Selvamanickam, V.
Petrenec, M.; Polák, J.; Šamořil, T.; Dluhoš, J.; Obrtlík, K.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes