Stela ハイブリットピクセルカメラ

メリット:

DigitalMicrograph^® ソフトウェアから全ての操作が可能な、最先端の電子線回折実験のための唯一のハイブリット-ピクセル電子線検出器がStela^®です。ノイズを最小化する電子カウンティング機能と、最高のダイナミックレンジを実現するデジタル化処理機能を備えたDECTRIS社製ハイブリット-ピクセル電子線検出器をStelaは採用しています。

ひとつのプラットフォームで多くのアプリケーションに対応

DigitalMicrographソフトウェアからの操作: 電子線回折図形の取得と4D STEMのアプリケーションにハイブリット-ピクセル電子線検出器をシームレスに統合
複雑な観察結果を素早く明快な知見へ: 測定条件を最適化し最高の4D STEMデータを得るために、数分で結果を解析、評価

妥協のない電子線回折実験のために

4D STEMに適した広いダイナミックレンジ: 最先端の電子線回折実験のために弱い反射と強い反射の双方を取得
>16,000 ピクセル/秒を超える速度で4Dデータキューブを取得:
- 試料ドリフトやダメージの影響を抑制
- 短時間で広視野のデータを取得
低加速電圧でのデータ取得に最適化: 80 kV 以下での電子線回折図形の取得が必須な材料に理想的

メディアライブラリ:

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パブリケーション

Direct observation of single-atom defects in monolayer two-dimensional materials by using electron ptychography at 200 kV acceleration voltage

Scientific Reports

2024

Chen, Y.; Chou, T. -C.; Fang, C. -H.; Lu, C. -Y.; Hsiao, C. -N.; Hsu, W. -T.; Chen, C. -C.

The performance of detectors for diffraction-based studies in (S)TEM

Microscopy and Microanalysis

2022

Pakzad, A.; dos Reis. R. D.

Potential nanoscale sources of decoherence in niobium based transmon Qubit architectures

arXiv

2022

Murthy, A. A.; Das, P. M.; Ribet, S. M.; Kopas, C.; Lee, J.; Reagor, M. J.; Zhou, L.; Kramer, M. J.; Hersam, M. C.; Checchin, M.; Grassellino, A.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.; Romanenko, A.