PECS IIシステム | Gatan, Inc.

メリット:

SEM試料の前処理として最適に完全自動化されたアルゴンイオンビームミリングシステムです。ダメージの少ない加工表面、加工断面、コーティング(保護膜または帯電除去用)が出来ます。

1回のポンプダウンで試料を加工およびコーティングが可能
100 Vの低加速電圧での加工による、高速でダメージのない試料表面処理
最大直径32 mmの試料を使用可能
大気非暴露試料搬送に対応：PECS™ IIからSEM/FIBまたはグローブボックスに試料を移動可能(オプション)
GatanのDigitalMicrograph^®ソフトウェアでのデジタル光学画像の取得および自動保存
10インチの統合カラータッチスクリーンを使用して、すべてのPECS IIパラメータを表示および制御

メディアライブラリ:

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パブリケーション

On the role of transmission electron microscopy for precipitation analysis in metallic materials

Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences

2021

Zhou, T.; Babu, R. P.; Hou, Z.; Hedström, P.

Role of extrusion rate on the microstructure and tensile properties evolution of ultrahigh-strength low-alloy Mg-1.0Al-1.0Ca-0.4Mn (wt.%) alloy

Journal of Magnesium and Alloys

2021

Liu, X. Q.; Qiao, X. G.; Pei, R. S.; Chi, Y. Q.; Yuan, L.; Zheng, M. Y.

On the effect of carbon content and tempering on mechanical properties and stiffness of martensitic Fe–18.8Cr–1.8B–xC high modulus steels

Materials Science and Engineering: A

2021

Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.

リソース:

モデル685

データシート

PECS IIシステム

アプリケーション

CuコーティングしたポーラスZn合金のダメージフリー加工

EBSD測定を成功させるマグネシウム合金の酸化被膜の除去

EDSマッピングにおける試料の表面と厚さの影響

良好なEBSD測定を可能とする多相アルミニウム合金表面の最適化

多相CoRe合金の界面の解析

プロトコル

クリーニング銃や冷陰極ゲージ

関連製品

Cipher™ System
DigitalMicrograph^®ソフトウェア
 Ilion ^® IIシステム

ファームウェア

ダウンロード

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