 |
PECS IIシステム SEMのイメージングおよび分析技術のための試料の研磨およびコーティング用に設計されたブロードアルゴンイオンビームシステム。 |
|
 |
Ilion IIシステム 試料の断面、表面加工が出来、その加工面を低加速電圧で処理することにより、最適なSEM用および分析用の試料を作製することが出来ます。 |
|
 |
Solarus II システム TEM、SEM試料および試料ホルダーから炭化水素コンタミネーションを除去する次世代のプラズマツール |