再現性良く試料を作製し、ソフトマテリアルにおける構造変化を測定できます。この構造変化によって遷移金属内に応力やひずみを生じ、電子伝導率に影響を与え、製品のエネルギー出力量を低下させる不可逆的な相変化を引き起こします。
Read more...
更なる微細化と新たな三次元構造の製品化への道筋をつけ、デバイス性能の向上を実現するために、材料の複雑さと欠陥をより深く理解することができます。
Read more...
Zhao, W.; Fu, Z.; Deng, J.; Li, S.; Han, Y.; Li, M. -R.; Wang, X.; Hong, J.;
Han, L.; Addiego, C.; Prokhorenko, S.; Wang, M.; Fu, H.; Nahas, Y.; Yan, X.; Cai, S.; Wei, T.; Fang, Y.; Liu, H.; Ji, D.; Guo, W.; Gu, Z.; Yang, Y.; Wang, P.; Bellaiche, L.; Chen, Y.; Wu, D.; Nie, Y.; Pan, X.
Kim, S. C.; Huang, W.; Zhang, Z.; Wang, J.; Kim, Y.; Jeong, Y. K.; Oyakhire, S. T.; Yang, Y.; Cui, Y.
Kim, M. S.; Zhang, Z.; Rudnicki, P. E.; Yu, Z.; Wang, J.; Wang, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kim, S. C.; Zhang, W.; Boyle, D. T.; Kong, X.; Xu, R.; Huang, Z.; Huang, W.; Bent, S. F.; Wang, L. -W.; Qin, J.; Bao, Z.; Cui , Y.
Yu, Z.; Rudnicki, P. E.; Zhang, Z.; Huang, Z.; Celik, H.; Oyakhire, S. T.; Chen, Y.; Kong, X.; Kim, S. C.; Xiao, X.; Wang, H.; Zheng, Y.; Kamat, G. A.; Kim, M. S.; Bent, S. F.; Qin, J.; Cui, Y.; Bao, Z.
Zhang, Z.; Li, Y.; Xu, R.; Zhou, W.; Li, Y.; Oyakhire, S. T.; Wu, Y.; Xu, J.; Wang, H.; Yu, Z.; Boyle, D. T.; Huang, W.; Ye, Y.; Chen, H.; Wan, J.; Bao, Z.; Chiu, W.; Cui, Y.
Sharangi, P.; Pandey, E.; Mohanty,S.; Nayak, S.; Bedanta, S.
Zaccagnini, P.; Ballin, C.; Fontana, M.; Parmeggiani, M.; Bianco, S.; Stassi, S.; Pedico, A.; Ferrero, S.; Lamberti, A.
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Behera, P.; May, M. A.; Gómez-Ortiz, F.; Susarla, S.; Das, S.; Nelson, C. T.; Caretta, L.; Hsu, S. -L.; McCarter, M. R., Savitzky, B. H.; Barnard, E. S.; Raja, A.; Hong, Z.; García-Fernandez, P.; Lovesey, S. W.; van der Laan, G.; Ophus, C.; Martin, L. W.; Junquera, J.; Raschke, M. A.; Ramesh, R.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Murthy, A. A.; Stanev, T. K.; Ribet, S. M.; Liu, P.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Stern, N. P.; dos Reis, R.; Dravid, V. P.
Balch, H. B., Evans, A. M., Dasari, R. R., Li, H., Li, R., Thomas, S., Wang, Q., Bisbey, R. P., Slicker, K., Castano, I., Xun, S., Jiang, L., Zhu, C., Gianneschi, N., Ralph, D. C., Brédas, J-L., Marder, S. R., Dichtel, W. R., Wang, F.
Zhang, Z.; Yang, J.; Huang, W.; Wang, H.; Zhou, W.; Li, Y.; Li, Y.; Xu, J.; Huang, W.; Chiu, W.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
Adikimenakis, A.; Chatzopoulou, P.; Dimitrakopulos, G. P.; Kehagias, Th.; Tsagaraki, K.; Androulidaki, M.; Doundoulakis, G.; Kuzmik, J.; Georgakilas, A.
Spende, H.; Margenfeld, C.; Meyer, T.; Clavero, I. M.; Bremers, H.; Hangleiter, A.; Seibt, M.; Waag, A.; Bakin, A.
Chao Zhang, C.; Firestein, K. L.; Fernando, J. F. S.; Siriwardena, D.; von Treifeldt, J. E.; Golberg, D.
Fang, C.; Li, J.; Zhang, M.; Zhang, Y.; Yang, F.; Lee, J. Z.; Lee, L. M. -H.; Alvarado, J.; Schroeder, M. A.; Yang, Y.; Lu, B.; Williams, N.; Ceja, M.; Yang, L.; Cai, M.; Gu, J.; Xu, K.; Wang, X.; Meng, Y. S.
Lotnyk, A.; Dankwort, T.; Hilmi, I.; Kienle, L.; Rauschenbach, B.
Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.
Lai, Z.; Bi, P.; Wen, L.; Xue, Y.; Jin, Y.
Almadoria, Y.; Delport, G.; Chambard, R.;Orcin-Chaix, L.; Selvati, A. C.; Izard, N.; Belhboub, A.; Aznar, R.; Jousselme, B.; Campidelli, S.; Hermet, P.; Le Parca, R.; Saito, T.; Sato, Y.; Suenaga, K.; Puech, P.; Lauret, J. S.; Cassabois, G.; Bantignies, J. -L.; Alvarez, L.
Pan, J.; Chen, S.; Fu, Q.; Sun, Y.; Zhang, Y.; Lin, N.; Gao, P.; Yang, J.; Qian, Y.
Pool, R.
Pan, J.; Chen, S.; Zhang, D.; Xu, X.; Sun, Y.; Tian, F.; Gao, P.; Yang, J.
Yasin, F. S.; Harvey, T. R.; Chess, J. J.; Pierce, J. S.; Ophus, C.; Ercius, P.; McMorran, B. J.
Zeng, L.; Gammer, C.; Ozdol, B.; Nordqvist, T.; Nygård, J.; Krogstrup, P.; Minor, A. M.; Jäger, W.; Olsson, E.
Gammer, C.; Ophus, C.; Pekin, T. C.; Eckert, J.; Minor, A. M.
de Boisse, B. M.; Nishimura, S.; Watanabe, E.; Lander, L.; Tsuchimoto, A.; Kikkawa, J.; Kobayashi, E.; Asakura, D.; Okubo, M.; Yamada, A.
Tsukasaki, H.; Mori, Y.; Otoyama, M.; Yubuchi, S.; Asano, T.; Tanaka, Y.; Ohno, T.; Mori, S.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Lutz, L.; Dachraoui, W.; Demortière, A.; Johnson, L. R.; Bruce∥, P. G.; Grimaud, A.; Tarascon, J. -M.
Ogata, K.; Jeon, S.; Ko, D.-S.; Jung, I. S.; Kim, J. H.; Ito, K.; Kubo, Y.; Takei, K.; Saito, S.; Cho, Y.-H.; Park, H.; Jang, J.; Kim, H.-G.; Kim, J. -H.; Kim, Y. S.; Choi, W.; Koh, M.; Uosaki, K.; Doo, S. G.; Hwang, Y.; Han, S.
Hu, X.; Yasaei, P.; Jokisaari, J.; Öğüt, S.; Salehi-Khojin, A.; Klie, R. F.
Tsukasaki, H.; Otoyama, M.; Mori, Y.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago, M.
Gao, J.; Liu, Y.; Wang, Y.; Wang, D.
Tsukasaki, H.; Mori, S.; Morimoto, H.; Hayashi, A.; Tatsumisago , M.
Hwang, S.; Lee, Y.; Jo, E.; Chung, K. Y.; Choi, W.; Kim, S. M.; Chang, W.
Shi, L.; Pang, C.; Chen, S.; Wang, M.; Wang, K.; Tan, Z.; Gao, P.; Ren, J.; Huang. Y.; Peng, H.; Liu, Z.
Minella, C. B.; Gao, P.; Zhao‐Karger, Z.; Mu, X.; Diemant, T.; Pfeifer, M.; Chakravadhanula, V. S. K.; Behm, R. J.; Fichtner, M.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Ziolkowska, D. A.; Jangam, J. S. Dilip; Rudakov, G.; Paronyan, T.; Akhtar, M.; Sumanasekera, G.; Jasinski, J. B.
Asayesh-Ardakani, H.; Yao, W.; Nie, A.; Marley, P. M.; Braham, E.; Klie, R. F.; Banerjee, S.; Shahbazian-Yassar, R.
Liu, H.; Bugnet, M.; Tessaro, M. Z.; Harris, K. J.; Dunham, M. J. R.; Jiang, M.; Goward, G. R.; Botton, G. A.
Ziolkowska, D. A.; Jasinski, J. B.; Hamankiewicz, B.; Korona, K. P.; Wu, S. -H.; Czerwinsk, A.
Wegele, T.; Beyer, A.; Ludewig, P.; Rosenow, P.; Duschek, L.; Jandieri, K.; Tonner, R.; Stolz, W.; Volz, K.
Dieterle, L.;Butz, B.; Müller, E.
Gatan Microscopy Suiteとしても知られるDigitalMicrographソフトウェア。デジタルカメラの制御と共に、電子線トモグラフィ、その場観察、スペクトラムイメージング、ディフラクションイメージング、その他多くのアプリケーションをサポート。
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
The EELS and EFTEM systems ideal for multiuser facilities, now with the Stela hybrid-pixel option.
Enabling optically-coupled transmission electron microscopy to reveal nanoscale structural, optical, and electronic properties
An enhanced energy dispersive spectroscopy (EDS) platform with the latest silicon drift detector (SDD) technology and high-speed electronics advancements.
A world-class materials characterization solution that provides users with elemental composition and crystallographic orientation results in one easy-to-use package.
By integrating energy dispersive spectroscopy (EDS) and wavelength dispersive spectrometry (WDS) analytical techniques on a single platform, EDAX Neptune provides the power and flexibility of EDS with the resolution, precision, and detection limits of WDS.
Premier software program for collecting and analyzing energy dispersive spectroscopy (EDS) data and the compositional characterization of materials.
Enables the characterization of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns within the user-friendly APEX software platform.
The premier microstructural visualization and analysis tool for interrogating and understanding electron backscatter diffraction (EBSD) mapping data.
Combines the intuitive workflow of the APEX software platform with the analytical power of wavelength dispersive spectrometry (WDS) to provide the ultimate resolution and trace element analysis to users of all levels.
The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes