概要:
エネルギーフィルタ透過型電子顕微鏡法(EFTEM)は、エネルギー損失スペクトルの特性を活用することで、画像のコントラストを強化し、色収差の影響を排除し、独自のコントラスト効果をもたらすイメージング手法です。主な用途は次のとおりです。
- コントラスト強化 – バックグラウンドのぼやけを生じる非弾性散乱電子を除去し、像および回折パターンのコントラストを高める
- ゼロロスフィルタリング、エネルギーロス最大強度イメージング、コントラスト調整、プレカーボン・イメージングなど
- マッピング – 非弾性散乱電子で結像することで、ナノメートルレベルの解像度で元素/化学マップを作成する
- 高解像度のイメージングが可能なツーウィンドウ法およびスリーウィンドウ法の元素マッピング/ジャンプレシオ・イメージング、化学結合マッピングなど
- 分析 – TEM試料の化学分析のための、電子エネルギー損失スペクトル(およびマップ)の取得および定量化
EFTEMの原理は、極薄試料に高エネルギー電子ビームを照射した際の電子の振舞いに基づいています。ほとんどの電子は遮られることなく試料を通過しますが、一部の電子は試料と相互作用し、弾性または非弾性散乱を生じます。非弾性散乱により、エネルギーの損失と運動量の変化が生じ、内殻励起の場合、試料内の元素の特性を示します。
EELSに関するより詳細な情報については、EELS.info を参照ください。
アプリケーション
ポスター
Pd-Auベース触媒の高速STEM EELSスペクトルイメージング分析
EELSを使用した生物由来物質の定量的調査
DualEELSモードでの高Z合金の高速組成分析
DualEELSモードで高エネルギー端を使用した高速原子レベルEELSマッピング分析
III-V MOSFET高k誘電体ゲートスタックの界面における原子分解EELS分析