Gatan Microscopy Suite® (GMS)としても知られるDigitalMicrograph® は、(走査)透過型電子顕微鏡(S)TEMにおける実験の制御と解析において標準のソフトウェアとなっています。DigitalMicrograph 3.5 は全く新しくなった、シンプルなユーザーインターフェイスを採用しています。DigitalMicrograph 3.5 は初心者の基本的な観察と解析を実現する一方で、経験者にはこれまで通り様々な機能と制御にアクセスすることが可能です。
最新のアップデート:
- エネルギー損失分光法 (EELS)
- GIF Continuum® システムでのあらゆる加速電圧におけるCounted EELS取得の実現
- ディフラクションイメージング
- 4D STEM データ解析機能に微分位相差コントラスト法 (DPC)が追加
- Latitude® D ソフトウェアによる、簡単なMicroEDデータ取得
- In-situ観察
- EELS、STEMを含む新たなIn-Situデータへの対応
- 様々なデータセット、試料ホルダーからの情報、処理データ間での同期を自動化
- カソードルミネッセンス
- エネルギー、運動量分光法のための波長分解、角度分解カソードルミネッセンス機能の追加
DigitalMicrographソフトウェアの更なる特長:
- 観察・測定手法を中心に据えたワークフロー: 実験のセットアップ、実行、解析をガイド
- タブ分けされたワークスペース表示、データレイアウトマネージャー機能: データの管理と配置を簡単に
- ライブデータのための専用表示: 取得済データと新たなデータを明確に区別し管理
- DigitalMicrograph と Python スクリプティング: エキスパートユーザーのための制御機能を犠牲にしません
- ファイルフォーマットの追加: HDF5ファイルフォーマットをサポート
Electron-counting MicroED data with the K2 and K3 direct electron detectors
無料DigitalMicrograph ソフトウェア
モジュール
デジタルイメージングソフトウェア |
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| Latitude D |
Delivers the efficiency and high-throughput data collection that you expect from Latitude software to MicroED studies.
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| Gatan社製カメラから得られる低電子線照射、単粒子、クライオ電子顕微鏡観察(Cryo-EM)のデータセットを効率的に、高いスループットで取得するための新たなスタンダードとなるべく開発されました。 | |
| TEM AutoTune | フォーカス、非点収差、ビームアライメントを自動調整します |
| DigitalMontage® | ステージおよび光学系を制御することで画像をシームレスに繋ぎ合わせることができます |
| HREM AutoTune | 高分解能TEM像のデフォーカス、非点収差、ビームチルトの重要な観察条件を自動的に調整することにより、HREM像の評価を容易にします |
| DIFPACK | 結晶試料の制限視野回折像(SAED)および高分解能格子像のディフラクトグラムの解析をサポートする回折像解析パッケージ |
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ライブホログラムからライブ位相アンラップ処理を含めたライブ位相像を計算することが可能であり、2π/1000レベルでの高分解能位相像を実現する像のスタック取得とスタック処理機能(試料と干渉縞のドリフト補正を含む)を備えています。 |
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EELS、EFTEM、およびSTEMソフトウェア |
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| STEM回析イメージングモジュール | 回析パターンを4Dデータセットとしてピクセル単位で取得できます |
| 高機能AutoFilterスイート | 複数元素に対するEELSおよびEFTEMデータの取得を自動化します |
データシート
アプリケーション
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Extensible real-time data processing with Python in DigitalMicrograph |
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Observing beam-induced dendritic growth over two different timescales |
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互換性
ツール
EELSアプリ スクリプト EELS.info WhatIsCL.info DigitalMicrograph Tips & Tricks
LOG4J AND LOG4SHELL VULNERABILITY
Gatan’s DigitalMicrograph application and Gatan Microscopy Suite (GMS) software suite, including all the plug-ins and modules developed by Gatan, do not use the Log4j framework and is therefore not exposed to the Log4Shell vulnerability.
DigitalMicrograph makes only very limited use of third-party software modules and only uses one that actually installs a Java Virtual Machine, which is necessary to run Log4j. This 3rd party module is developed by National Instruments. Gatan uses a National Instruments card to integrate the JEOL EDS detector, and NI’s statement is available here. National Instruments has indicated that the product we use is not affected.