K3 ISカメラを用いた低電子線照射、高速その場TEM観察

広いアプリケーション分野に対応するK3 IS直接検出型カメラを使用することで、高い操作性と共に低電子線照射条件と高速像観察との間で制約のない条件選択が可能な材料反応のその場キャラクタリゼーションを実現します。K3 ISカメラの広い視野によって、環境TEM中での昇温中の変化、バッテリー正極のリチウム挿入反応、その場実験後のナノワイヤの4D STEMによるひずみ測定といったナノ粒子の変形やダイナミクスの観察が実現されます。加えて、低電子線照射像観察は、バッテリー電極や電解質、金属有機複合体といった電子線照射に敏感な材料のクライオ像観察と組み合わされてきました。電子線照射に敏感な材料のその場観察において、ルックバック機能により重要な現象を逃すのを防ぐ一方で、試料中で引き起こされる現象の実際のデータ取得前にリアルタイムでのフレーム平均化された像観察が可能なこの最先端のカメラにはアドバンテージがあります。

本ウェビナーでは様々な材料の反応に対するその場観察や低電子線照射観察におけるK3 ISカメラの機能にハイライト当て、広いアプリケーションへの対応力や操作性について解説します。我々の研究はその場観察に注力しており、高速電子と電子線照射に敏感な材料の研究についてより詳しくご紹介します。

講演者

Katherine Jungjohann, Ph.D., Center for Integrated Nanotechnologies, Sandia National Laboratories

John Watt, Ph.D., Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory