加熱その場観察用ホルダー

メリット:

バルク加熱ホルダー

大型の加熱炉と水冷式の試料ホルダー軸を採用し、試料ホルダー先端部の温度を精密に制御
特殊なセラミック製の加熱炉支持体を使用し、加熱炉から試料ホルダー先端部への熱損失を抑制

Gatanモデル番号	最高温度¹(°C)	加熱炉	試料傾斜	試料固定方法	最大電気フィードスルー数
628	1300	タンタル	α軸傾斜	Hexring^® メカニズム	6
628	900	インコネル	α軸傾斜	Hexring メカニズム	6
652	1000	タンタル	α、β軸傾斜	Hexring メカニズム	2 – 6²
652	850	インコネル	α、β軸傾斜	Hexring メカニズム	2 – 6²

¹狭いポールピースギャップの場合、628の最高温度はタンタル製加熱炉で1000 °C、インコネル製加熱炉で700°Cに、また652の最高温度はタンタル製加熱炉で900°C、インコネル製加熱炉で700°Cに制限されます。
²JEOL UHRの場合はオプションで2～6の選択が可能、その他の電子顕微鏡の場合は最大で2。

メディアライブラリ:

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パブリケーション

Metastable hexagonal close-packed palladium hydride in liquid cell TEM

Nature

2022

Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.

In-situ transmission electron microscopy observation of the helium bubble evolution in pre-irradiated fluorapatite during annealing

Ceramics International

2021

Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.

Direct visualization of the earliest stages of crystallization

Microscopy and Microanalysis

2021

Singh, M. K.; Ghosh, C.; Miller, B.; Carter, C. B.