STEMx 系统

功能强大的工具,利用您现有的 Gatan 相机,开展 4D STEM 衍射研究。

优点 研究热点 媒体库 出版物 资源 回到顶部
优点: 

STEMx® 系统功能强大, 为您现有的 Gatan 相机 (K3® IS,Metro® 系列相机, ClearView® IS, OneView® IS, Rio® 16 IS,或 Stela®*) 以 及 GIF Continuum® 带来 4D 扫描透射显微表征(STEM)衍射功 能。4D STEM 是在 STEM 二维面扫中的每个像素点都采集一幅完 整的 2D 衍射花样的表征技术。

  • eaSI™ 技术驱动: 为您的 Gatan 相机增添强大的 4D STEM 表征 能力,通过统一而优化的界面完成实验设置、数据采集和后处理
  • 所有用户都可得到高质量数据: 集成化的工作流程(虚拟光阑,应变分布,差分相位衬度,以及取向分布)大大简化常规 4D STEM 研究,而通过脚本功能可扩展高阶应用的研究
  • 跨平台的 4D STEM: 补充您现有技术的功能,独有完全与能量过 滤以及混合像素探测技术一体化的系统

使用 DigitalMicrograph®中的 STEM SI 技术面板设置实验参数,然后开始采集,即可经由 STEMx 的硬件同步自动记录每个 STEM 探针位置的衍射花样。并可同时或者依次从样品的同一区域收集 EELS、EDS 或 CL 信号(取决于采集模式),并将它们组合到一 起。类似的,您还可以通过 4D STEM 原位升级包采集 5D STEM 数据集(4D STEM + 时间)。这种多模态、互相关联的数据采 集,使您可以通过衍射成像(diffraction imaging)进行形态和结构 分析,并通过谱学表征进行化学和成分分析,从而实现对样品更确 凿的分析。

为了帮助您尽可能的从 4D 数据集中挖掘丰富的信息,STEMx 提供了集成一体的分析工具。它们包括:

出版物

arXiv
2024

Mao, W.; Zhang, W.; Huang, C.; Zhou, L.; Kim, J. S.; Gao, S.; Lei, Y.; Wu, X.; Hu, Y.; Pei, X.; Fang, W.; Liu, X.; Song, J.; Fan, C.; Nie, Y.; Kirkland, A. I.; Wang, P.

ACS Nano
2023

Mun, J.; Sushko, P. V.; Brass, E.; Zhou, C.; Kisslinger, K.; Qu, X.; Liu, M.; Zhu, Y.

2023

Kanomi, S.; Marubayashi, H.; Miyata, T.; Jinnai, H.

回到顶部