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PIPS II 系统 精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制 |
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凹坑研磨仪 预先切薄以接近电子透明度的快速可靠的机械方法，可显著减少离子研磨时间和薄度不均现象。 |
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Solarus II 系统 新一代等离子清洗设备，去除TEM与SEM样品以及样品杆的碳氢化合物污染。 |
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透射电镜样品冲孔机 是针对金属、合金等塑性材料制备透射电镜 (TEM) 样品的首选方法 |
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手动研磨盘 预先减薄和抛光样品，以减少离子减薄的时间并提高样品质量 |
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超声波冲样机 以超声波切割脆性材料，以得到尺寸准确的3mm标准透射电镜样品或其他独特形状的样品。 |
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TEM截面样品制备工具包 适合用于制备半导体器件、薄膜和复合材料截样品的制样工具 |