PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统 | Gatan, Inc.

优点:

全自动氩离子抛光系统适合用于制备 SEM 样品，可以得到无损的表面、横截面和镀层，以保护样品或克服非导电样品的荷电问题。

只需一次抽真空，就可现实对样品的抛光、刻蚀或镀膜
在低至 100 伏的电压下刻蚀，从而快速地得到无损样品表面
可制备直径高达 32 毫米的样品
在不暴露于空气的情况下，将样品从 PECS™ II 仪器转移到 SEM/FIB 或手套箱中（可选）
利用 Gatan 的 DigitalMicrograph^® 软件存储和分析图像，数字光学成像
集成的 10 英寸彩色触摸屏显示和控制所有 PECS II 参数

媒体库:

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出版物

On the role of transmission electron microscopy for precipitation analysis in metallic materials

Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences

2021

Zhou, T.; Babu, R. P.; Hou, Z.; Hedström, P.

Role of extrusion rate on the microstructure and tensile properties evolution of ultrahigh-strength low-alloy Mg-1.0Al-1.0Ca-0.4Mn (wt.%) alloy

Journal of Magnesium and Alloys

2021

Liu, X. Q.; Qiao, X. G.; Pei, R. S.; Chi, Y. Q.; Yuan, L.; Zheng, M. Y.

On the effect of carbon content and tempering on mechanical properties and stiffness of martensitic Fe–18.8Cr–1.8B–xC high modulus steels

Materials Science and Engineering: A

2021

Baron, C.; Werner, H.; Springer, H.

资源:

685 型

产品说明书

应用

铜涂层覆盖多孔锌合金的无损样品制备

去除镁合金表面氧化层以进行成功的EBSD数据采集

样品表面和厚度对 EDS 面分布图的影响

为成功的EBSD分析而进行的多相铝合金表面优化处理

多相 CoRe 合金的中间相分析

方案

EM制样设备离子枪及冷阴极规的清洗

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DigitalMicrograph^® 软件
 Ilion ^® II 系统

固件

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