Gatan eaSI 技术实现剂量高效的 EELS 谱像采集

在电子显微镜中，芯损失(core-loss) 非弹性散射事件相对稀少。但是，这些非弹性事件揭示了大量我们想要了解的材料信息，诸如原子分辨尺度上材料中元素的分布以及它们的键合及电子态。在扫描透射电子显微镜(STEM) 中，电子能量损失谱(EELS) 的谱成像(SI) 是在原子分辨尺度上采集这些事件的方法。但是，传统说来，这一方法的速度和效率受限于所使用的硬件和采集策略。

在本次网络研讨会中，我们将会展示Gatan Stela^® 混合像素相机的能力，由 DECTRIS 和 eaSI^™ 技术驱动，这两者的组合使我们能够以高达 9,000 像素/秒的速度进行 STEM-EELS SI 的数据采集。数据的采集和处理在这一速率下能够实时进行，以随时为当前进行的实验提供即刻的反馈信息。借助 Gatan DigitalMicrograph^® 的实时连续漂移校正，消除了帧间的延迟，以达到更高效率的使用 Stela 相机近乎于零噪音的读出。我们将分享能够同时帮助最小化样品损伤并达到原子分辨率 STEM-EELS 数据采集的最佳实践，甚至是利用一台常规的、无校正器的电镜。

主讲人： Liam Spillane, 分析电镜应用科学家, Gatan

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