直接电子探测技术在透射及扫描电镜中的材料表征

  1. 使用新型Gatan K3 IS直接探测相机的示例，从软材料成像到复杂材料界面中4D-STEM的特殊应用。Gatan K3 IS的性能允许以高时间分辨率在计数模式下获取原位成像和4D STEM数据。
  2. EDAX全新推出的直接电子检测EBSD探测器Clarity，可达到单电子检测程度，并可获取极其清晰的衍射花样，扩展EBSD分析领域的应用，尤其是在电子束流敏感材料及变形材料的表征方面有极大的提升。