阴极荧光详解 第4集：提高空间、谱和角度分辨率

本集内容将聚焦于实际操作，即如何在扫描电镜（SEM）的CL系统中采集更清晰锐利的阴极发光分布、谱或角度分辨的发光花样。在您参加完本次研讨会后，您将了解到为何对不同的样品类型，需要设置特定的SEM条件；以及对CL探测器的哪些组成部分或部件的控制，对于获取优化的结果是至关重要的。