采用STEM技术进行高速分析数据获取的研讨会

SSTEM-EELS模式下的谱图数据采集在很多情况下可实现材料在原子尺度的成分和化学态的分析和变化记录；要采集这些信息，研究者不仅需要优化调试光谱系统，还需要使样品和STEM配置都处在最优状态。在这个研讨会中，我们讨论了如何优化STEM配置与EELS系统从而实现高速谱图分析。参加者将学习到提高谱图质量的EELS相机的配置需求以及谱仪的设置需求。