优点:
TEM 分析样品杆适用于基本的成像和分析应用，例如对 TEM 样品的电子衍射和 X 射线能谱法 (EDS) 分析。
- 样品压片为铍金属，可尽量减少不必要的 杂散X 射线信号
- 样品杆头部的几何形状与 TEM 极靴配置相符，以减少 EDS 信号的遮挡
- 为了便于 X 射线定量分析，非旋转的样品杆配有一个小法拉第杯，位于样品杆尖头处
- 不可旋转的样品杆可以安装电极
| 型号 | 铍支架 | 样品定位 | 样品固定 | 电动控制 | 法拉第杯 | 最大引电极数（选配） |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 643 | 标准 | α 倾斜 | Hexring® 机制 | 标准 | 6 | |
| 646 | 标准 | α、β 倾斜 | Hexring 机制 | β 倾斜 | 标准 | 4 – 61 |
| 650 | 标准 | α 倾斜和旋转 | Hexring 机制 | 旋转 | 否 | 0 |
| 925 | 标准 | α、β 倾斜和旋转1 | Hexring 机制 | 否 | 0 |
643、646、650、925 型
产品说明书
单倾分析样品杆，643 型
双倾分析样品杆，646 型
单倾旋转分析样品杆，650 型
双倾旋转分析样品杆，925 型
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