优点:
OnPoint™探测器是背散射电子 (BSE) 检测的标准，它提供了优良的灵敏度和速度，以更好地分析轻质金属、聚合物、塑料和生物材料。该系统使用针对低 kV 优化的探测器，扩展了您研究低原子序数 (Z) 元素、无涂层生物样品和采集大型 3D 数据集的能力。
- 解析因荷电现象或电子束损伤而变形的材料特征: 在低kV采集图像，以减少电荷积聚防止脆弱样品损伤
- 快速采集大型3D数据集: 用最多比以往快6倍的速度获取大视场图像或3D数据集
- 区分低原子序数的元素: 实现较高的信噪比 (SNR)，可用来帮助区分原子序数相近的元素
- <提供较高的BSE采集效率: 输出具有更高信噪比的图像，因为OnPoint 探测器捕捉到了其它探测器未捕获的电子，而且OnPoint™探测器最大限度地减少了检测系统内的噪音
- 实现更加准确的定量: 通过生成具有更宽动态范围的图像，以便更准确的测定合金和化合物的元素组成
技术规格
应用
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