本次网络研讨会，带您探索 Gatan Microscopy Suite® (GMS) 3.4 带来的全新分析工具。
ELNES 相分布分析在 GMS 中现有基于模型的 EELS 定量分析框架这一基础上更进一步，除了能够使用软件中已有的，通过计算得到的散射截面模型，我们还可以使用预先采集的参考谱（或构建标准）来进行定量分析。这一新工具不仅为分析提供了更为真实的吸收边形状，使得我们能够在更大的能量范围上进行拟合，带来更精确的最终定量分析结果，并且在 ELNES 相分布分析中，能够针对同一个元素的电离边，导入多个不同相的参考谱线，来实现不同材料相的分离和定量。本次网络研讨会向大家带来这一新功能的概览，通过应用实例展示最新的数据处理能力。
主讲人
Liam Spillane, Ph.D.，Gatan 分析应用专家