主页 / 资源 / 媒体库 / Understand effects of the electron beam with the K3 IS Direct Detection Camera
运用 K3 IS 直接探测相机研究电子束对材料的影响
敏感材料会受到电子束的影响,因为传统相机的成像需要更高的电子剂量,电子束带来的负面影响往往阻碍了对这些材料的原位表征。但是,K3 IS相机能够对电子进行计数,从而在低电子剂量下带来高质量的数据,使得 K3 IS 相机能够获得材料随时间演化的高分辨率图像。视频是对分子筛(zeolite)样品连续观察采集 485 s 的数据。