Science Direct
2022
Virtual and Physical Prototyping
2022
モデル695
データシート
Precision Ion Polishing System (PIPS™) II
アプリケーション
Applications
ポスター
広範囲の低エネルギーイオンビームミリングによってFIB作製TEM試料の質を向上
広範囲アルゴンビーム研磨加工を使用したTEM薄膜のFIB後クリーンアップ
II-V MOSFET高K誘電体ゲートスタックの複数接触面にわたる原子分解EELS分析
プロトコル
イオンガンと冷陰極真空計のクリーニング
ステージとビームの位置合わせ
薄膜調整
薄膜レシピ
関連製品
ディンプルグラインダ
ディスクパンチシステム
Gatan Microscopy Suite®ソフトウェア
ディスクグラインダシステム
試料ラッピングキット、モデル623.30
試料埋め込みプレート、モデル623.40
超音波カッター、モデル601