メリット:
透過型電子顕微鏡(TEM)用の複数試料ホルダーを使用することで、多数の試料の比較スクリーニングが必要となる用途において観察効率が向上します。
- ホルダーのタイプに応じて、常温または冷却温度下で観察
- 交換可能なカートリッジ設計により、脆い試料の取り扱いと保管が簡単
- FIBBEM™カートリッジの片側の開口部からイオンビームとデポジションガスにアクセスして試料の作製が可能であり、そのままカートリッジを試料ホルダーに取り付けてTEM観察が可能
| モデル番号 | 試料位置 | 試料固定 | 交換可能カートリッジ | 動作温度 |
|---|---|---|---|---|
| 677 | αチルト | Hexring® メカニズム |
有1、2 | 周囲 |
| 677.FIB | αチルト | FIBBEMカートリッジ | 有1 | 周囲 |
| 910 | αチルト | Splitring®メカニズム | 有3 | -170 °C 未満 |
2 狭いポールピースギャップ用の構成には、着脱可能カートリッジは含まれません。
3 HitachiおよびZeiss TEM用のホルダーでは、2つの試料位置が使用可能です。FEI、JEOL、およびTopcon TEM用のホルダーでは、3つの試料位置が使用可能です。
モデル677、677FIB、910
データシート
一軸傾斜複数試料ホルダー、モデル677
一軸傾斜複数試料ホルダー(FIB用)、モデル677FIB
一軸傾斜複数試料クライオトランスファーホルダー、モデル910
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